MICROSCOPIO
Microscopio Electrónico de Barrido
Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo Modelo Nova NanoSEM 200 Marca FEI con Sistema de Microanálisis De Energía Dispersiva de Rayos X (EDS o EDX) Marca Oxford Modelo INCA X-Sight.
Responsables: DRA. MARGARITA SANCHEZ DOMINGUEZ
Institución: Centro de Investigación en Materiales Avanzados, S.C. (CIMAV-Unidad Monterrey)
Ubicación: CIMAV Monterrey Alianza Norte 202. Parque de Investigación e Innovación Tecnológica. Apodaca, Nuevo León, C.P. 66600
Condiciones de prestamo: No sujeto a préstamo. Con ciertas limitaciones, sujeto a analizar muestras de proyectos en colaboración (con Margarita Sanchez)
Soporte Técnico: SI